案例速递|光学薄膜缺陷识别检测-东莞市沃德普自动化科技有限公司

案例速递|光学薄膜缺陷识别检测

 

 

检测背景:

 

 

 

光学薄膜是手机、平板、笔记本、车载中控和仪表盘屏幕的核心组件,这些薄膜直接贴合在屏幕背光源与显示面板之间,任何缺陷都会直接影响屏幕成像画质与视觉显示效果,那么该如何进行检测呢?

 

 

检测需求:

检测对象:光学薄膜

检测类型:薄膜表面各类缺陷

像素精度:0.02mm/pixel

 

检测方案:

相机:8K线扫相机

镜头:FA镜头

光源:线形光源 LN5系列

 

方案说明:

本方案采用单台线扫工业相机垂直于样品表面拍摄,配合两根线形光源构建了分时成像系统

 

(成像示意图)

 

上方斜射光源:在样品上方侧边,倾斜布置线形光源。斜射光能够突出薄膜表面的微小划痕缺陷,当遇到划痕、印子等缺陷时,会产生反射差异,在图像中形成清晰的亮暗对比。

线状印子↑

线状印子↑

 

细微擦伤↑

细微擦伤↑

 

下方错位背光光源:在样品正下方布置第二根线形光源,但不与相机和样品垂直对齐,而是刻意错开一定距离。在成像区域形成了自然的明暗过渡带。对于电热膜拉伸不匀、油污、气泡等内部缺陷,会在明暗过渡带中呈现出独特的轮廓特征,大大提高了缺陷的辨识度。

气泡↑

气刀油污↑

 

条状油污↑

油污↑

鱼眼状拉伸↑

热封不均↑

 

 

END

 
 

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